在电子设备的生产中，老化测试在整个使用寿命期间的可靠性和对声明参数的保证起着重要作用，尤其是在特殊应用（国防和航天工业、电信、医药等）方面。即使经过成功的参数和功能测试，在实际操作条件下使用时也有可能出现设备故障。此类设备被称为潜在不可靠设备，它们的上市是不可接受的，因为它们无法承受制造商声明的使用寿命。因此必须使用特殊测试方法来识别潜在不可靠的设备：电热训练、热训练、能量循环等。
上图显示了设备故障概率对其运行持续时间的依赖性曲线。从图中可以看出，由于产品制造过程中存在缺陷以及设备因磨损而导致设备寿命结束时，故障数量最多发生在操作的初始阶段。制造商很大的兴趣是筛选出所有不能承受声明使用寿命的产品。初期失败的原因往往是生产过程中不受控制的过程。
一个很好的例子是在多个通道上具有高带宽以实现高数据速率的5G设备。增加工作频率的要求导致设备的几何尺寸减小。由于使用了技术设备的限制性操作模式，这反过来又导致生产中出现隐藏的缺陷。此外，最终产品的质量在很大程度上取决于原材料的纯度、电子设备设计的选择规则以及生产过程本身的组织。因此，最终测试阶段对制造商来说是强制性的，这样可以消除潜在的不可靠设备。
在老化测试的情况下 ，不仅对设备施加电效应，而且要设置高低温箱的环境温度。测试的持续时间可以通过提高高低温箱的温度来缩短。但是在很宽的温度范围内（例如，从-60到+150°C），老化过程也可能需要几个小时到几百个小时。考虑到如此长的测试时间，有必要同时老化尽可能多的设备。
因此增加测试通道的问题，特别是对于微波设备，是当今提升测试效率最重要的问题。在大多数情况下，设备由直流电持续供电，而微波信号从单个信号源通过放大器馈送到功率分配器，功率分配器将信号分配到所需数量的通道。显然，这种解决方案的缺点是需要使用放大器并且无法单独控制每个通道的信号参数。直接针对这些问题，AnaPico推出了多通道模拟模拟信号源（APMS-ULN系列)、多通道矢量信号源（APVSG-X系列）和更加经济的多通道频率综合器（APSYN140-X系列和APUASYN20-X系列），它们分别采用1U和2U 19英寸机架尺寸。
AnaPico多通道信号发生器的通道：每个通道的频率、功率和调制可以独立于其他通道的参数进行设置。此外，信号输出是相位相干的，允许您设置各个输出之间的相位偏移。由于发生器的高输出功率（高达+25 dBm），可以不再使用额外的信号放大器进行老化测试。此外，信号源能够快速调谐频率（快至5 μs），以及在频率、功率和相位方面存在的扫描模式，这很大程度上提高了测试生产的效率。
AnaPico模拟发生器的内置调制类型（AM、FM、ΦM和脉冲）允许您针对不同类型的设备同时测试。每个矢量信号源输出都有一个高性能的内部I/Q调制器，可提供独立、可配置的调制波形，并支持特殊调制方案（FSK、PSK、ASK、QAM、I/Q、脉冲、突发、啁啾脉冲、宽带FM/AM）。即便是简单经济的频率综合器也可以不仅输出高质量的连续波信号也可输出脉冲、快速扫描甚至常用的模拟调制信号。
除了能够向被测设备发送信号外，还需要确保在测试过程中及时传输命令和从仪器收集数据。为此，多通道发生器提供了通过各种接口（例如USB、LAN或GPIB）使用标准SCPI命令语言进行控制的能力。适用于MATLAB、LabVIEW、C++和其他商用工具的应用程序编程接口(API)和编程示例使仪器控制变得非常容易。
AnaPico多通道发生器的上述特性使其能够满足对微波器件可靠性测试日益增长的要求。高技术特性（低相位噪声、高输出功率、快速频率捷变、各种类型的调制等）在不使用信号放大器和功率分配器的情况下为每个被测设备提供具有所需参数的信号。因此，可以在不增加其总成本甚至降低总成本的情况下实现测试系统的更高效率。（www.anapico.net.cn）
多通道信号源
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目前，AnaPico的多通道信号源已经广泛应用于国内多家专业生产收发组件、功率放大器和天线等微波组件的工厂产线，他们的生产效率得到了明显的提升，带来了较高的经济收益！
